Tanszéki konzulens: 

Kovácsházy Tamás associate professor Szoba: IE334 Tel.: +36 1 463-4372 Email: khazy (*) mit * bme * hu

A feladat egy pontos fázis, illetve amplitudó mérés létrehozása a Silicon Laboratries EFR32 SoC család által szolgáltatott vevőoldali IQ minták között. A mérés alapul szolgálhat egy kalibrációs eljáráshoz, melyben egy modulálatlan tesztjel által generált IQ mintákból számolt fázis- és amplitudóhiba közvetlenül alkalmazható a korrekciós áramkörökben. Az eljárás előnye a gyorsasága lehet a klasszikus iteratív kalibrációs algoritmusokkal szemben. A feladat a módszer implementálása, majd annak határainak feltérképezése (milyen hosszú megfigyelésre van szükség az adott pontosság eléréséhez, hogyan változik a pontosság a tesztjel jel-zaj viszonyának függvényében).